公司“光学图像法测量棉纤维杂质”技术获国家专利
发布时间: 2011-01-20 来源:原创 作者:无
日前,公司申请的 “光学图像法测量棉纤维杂质的装置”技术获得国家知识产权局专利授权。在为国产棉纤维性能测试提供先进可靠技术的同时,最大限度的满足中国棉花检验体制改革仪器化技术发展的需要。
纤维检验部门和纺织行业对棉纤维的杂质性能极为关注。长期以来,我国的检验部门和纺织企业对棉纤维的杂质测量采用机械式分离杂质的称重法,这种方法的缺点是测量速度很慢,不能有效地测量棉纤维的叶屑杂质,不能满足棉花质量检验的快速测量要求。长岭纺电公司自主研制,设计了一种光学图像法测量棉纤维杂质的装置,以实现棉花质量检测的需要。这项专利技术,确保了标准光源的稳定、可调光路的设计及实现、测试窗口光照的稳定均匀,光学调节器的设计和被测棉纤维的杂质图像清晰准确,专门的棉纤维杂质图象处理软件,通过用标准的白板和杂质板对仪器进行较准,完成对被测棉纤维表面杂质粒数和杂质面积相对百分率的准确测量,并对杂质进行分级。
据悉,该项专利技术已成功的应用在XJ128快速棉纤维性能测试仪产品上,保证了该产品测试棉纤维杂质性能指标的快速全面准确。